进行应力双折射检测有什么作用？

　　应力双折射仪是一种用于测量光线经过单轴晶体时的双折射现象的仪器。其工作原理基于它们的物质学性质，即单轴晶体沿一个方向具有高度对称性，沿其他两个方向则没有对称性。这使得单轴晶体对于进入的光线在两个反向传播方向上表现出不同的折射率。例如，若将一束与晶体轴夹角相等的地面光投入样品，其中一束光会同时沿着晶体轴和众多不同的方位产生折射；而另一束仅纵向通过晶体。
 

　　由两部分组成：样品和偏振器(Polarizer)。一个固定的偏振器放在样品前面，以控制作用在晶体上的光源偏振状况。然后光通过样品，被分离成两束，其中一束是O光，按照规律沿着拟合自然方向的折射面的晶面(⊥光)、另一支是E光，沿着垂直折射面的晶面(∥光)。分离后两束光会被小孔再次凝聚到一起，并由另一个偏振器检测其强度。偏振器可以wheel控制以调整其方向，以使得样品对于不同极轴之间的折射率差异变得显而易见。将其放置在微调范围内(通常为+/-20°)，从而测量双折射(doublrrefraction)产生的相位延迟。
 

　　应力双折射仪广泛应用于材料科学、矿物学、晶体学和地质学中，以准确测量物质中的应力状态并推断物质结构、性质等信息。此外，在天文学和高能物理学领域，它还可以被用来识别施加在高度对称晶体上的非常弱的应力，以及探究高能粒子与物质作用时的相关效应。
 

　　应力双折射仪优点：
 

　　1.可以对单晶样品进行大量测量并快速获得弹性状况信息；
 

　　2.测定结果具有重复性高、灵敏度高和抗干扰性好等特点；
 

　　3.能够应用于多种场合下对各种PMMA进行非接触、无损伤测试。