在同一台仪器中采用四个光弹性调制器(PEM)，150XT Mueller偏振计可以在短时间内同时测量十六个穆勒r矩阵元素和样品的完整偏振特性。 Hinds 仪器公司产品系列的这一新增功能可应用于学术和工业研究、光学元件特性、制造和质量控制。 承包系统在各种光学、化学和生物化学样品中绘制出线性延迟、圆形延迟(或旋光)、线性二次衰减和圆形二次衰减。
灵敏度和重复性
使用Hinds仪器公司的PEM技术，该系统为一个完整的穆勒偏振计提供了高灵敏度。此外，PEM提供高速操作，以几十千赫的速率调制。灵敏度和重复性可轻松提供亚纳米水平的线性和圆形双折射测量结果，以及线性和圆形二次衰减的亚百分比测定，这对于许多应用很重要。
精心设计，操作简单，直观
一个大至6“x 6"(150mm x 150mm;更大尺寸可选)的样品可以手动或自动绘制并以图形方式显示。 一旦将样本放置在翻译阶段，直观的软件就可以指导操作员完成步骤测量过程。 用户界面软件可计算线性延迟值、圆形延迟值、线性衰减值和圆形衰减值，并以各种格式显示它们。 该软件还提供文件管理和校准功能。 在可选模式中，样本可以相对测量光束倾斜，而不是在XY 平台移动，使用自动旋转器或旋转器生成产所有十六个Mueller矩阵元素的角映射和样本的所有偏振属性。
Mueller偏振计测量了通过正在研究的光学样品的光学路径集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化，然后由前两个脉冲编码调制。调制光束通过样品传输，然后通过另外两个PEM的组合，一个分析器和一个光电探测器。电子信号是通过傅立叶分析捕获的波形(锁定选项可用于更低级别的信号检测)来处理的。一种由纽约大学和Hinds仪器合作开发的软件算法，将电子模块中的信号电平转换成16个Mueller矩阵元素和样品的特性，当在自动映射模式下工作时，x-y平移阶段将样本移动到下一个预定的测量位置。结果以用户需求的格式即时显示。
穆勒矩阵测量系统主要特点：
在全Mueller偏振计中具有高灵敏度
同时测量所有十六个Mueller矩阵元素
同时测量完整的偏振特性
准确重复性
高速测量
光学系统中无移动部件
可变尺寸光学元件的自动映射
光弹调制器技术
简单、便于用户使用的操作
穆勒矩阵测量系统应用：
学术和工业研究
质量控制计量
测量完整的偏振特性
具有复杂内部结构的光学元件
激光晶体
具有复杂图层的液晶显示器
非晶态晶体
各向异性晶体
化学和生物各向异性光学材料
由电场或磁场引起的各向异性
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