PCI共光路干涉弱吸收仪

简要描述：PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理：Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布，即热透镜效应，当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时，探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉，并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理。

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厂商性质：代理商
更新时间：2024-09-10
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PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理：

PCI共光路干涉弱吸收仪

右图，Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布，即热透镜效应，当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时，探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉，并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理，最后由软件计算显示出待测样品的吸收值。

特点：

精度高: 1 ppm
一次测量可以区分体、面吸收
扫描速度快（几分钟）
对样品规格要求不高
操作方便、简单

应用领域：

光学薄膜
光学晶体材料
光学镜片

PCI共光路干涉弱吸收仪性能：

测量晶体（LBO、YVO4、KTP…）或光学产品（K9、BK7、UVFS…）内部材料的弱吸收（体吸收）
测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收
PCI 指标说明

波长	常规355、532、1064nm，其它波长可定制
灵敏度	体吸收:1ppm/cm；面吸收:1ppm
样品规格	方形、圆形均可最小尺寸（mm）：3x3x3；最大尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定制
测试速度	常规2min/片（相对6mm厚度）
区分体、面吸收	一次测量可以区分体、面吸收
软件扫描功能	AbMat-1D: 一维逐点扫描 AbMat-2D: 二维吸收立体扫描
扫描方式	长度/面/时间扫描

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（imported with original packaging） -最大功率：2mw -功率稳定性：<0.1% -发散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纤激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束质量M2：<1.5 -功率稳定性：＜2%(超过5 小时) -偏振：随机 -制冷方式：风冷 -偏振光系统
2.探测部分	imported with original packaging 含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。
3.载物台部分	imported with original packaging 含三维步进电机、样品支架等
4.光学元件部分	反射镜、透镜、功率调节器等
5.软件部分	实时数据采集，自动保存，数据分析等。一维逐点扫描二维吸收立体扫描
6.其它说明	建议设备安装在超净间环境；建议配UPS电源。

测量结果及仪器实物图

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