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简要描述:光学玻璃应力测量占地小-大限度地减少设备所需的工厂空间;平台设计-使可测量面积尽可能大;强大的自动化-质量阶段和硬件正常运行时间。
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LCD材料的超低阶双折射测量
用于LCD的Exicor GEN系列
Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度*(0.005 nm),且定制平台扫描,用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm )光学玻璃应力测量,大型液晶基板应力分布测量,应力测量。如用于LCD(高达1500mm x 1500mm)的光学材料。
光学玻璃应力测量重要特点:
•占地小 - 大限度地减少设备所需的工厂空间
•平台设计 -设计使可测量面积尽可能大
•强大的自动化 - 质量阶段和硬件正常运行时间
•稳定的服务支持 - 各地的支持中心和备件中心
•符合工业标准 - 符合S2 / S8和CE标准
•灵活的软件 - 优化的软件。 自定义功能和DLL接口可用
•低维护设计 - 易于维修的组件
•负载辅助 - 倾斜阶段选项
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