残余应力测量

简要描述：该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射

产品型号：OIA
厂商性质：代理商
更新时间：2022-09-27
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利用光弹调制器技术，Hinds 公司的应力双折射测量系统(残余应力测量)可以在深紫外（193nm）波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作（氟化钙）和特定形状（非球面透镜）的技术解决方案。

应力双折射测量系统，非球面透镜应力双折射测量，应力椭偏仪，应力椭偏测量,残余应力测量

Hinds 公司的不规则非球面光学元件应力分布测量系统（应力双折射测量系统）通过对光的调制解调可以测出待测光学元件中的双折射大小和方向，这些数据同时也表示了应力的大小和方向。Hinds 公司这套不规则非球面光学元件应力分布测量系统的倾斜，多角度入射扫描技术可以保证对非球面不规则的光学元件（光刻机透镜等）有着的扫描测量解决方案。

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