当前位置:首页   >  产品中心   >  弱吸收仪  >  LID光热偏转技术弱吸收仪

  • LID光热偏转技术弱吸收仪采用光热偏转技术,用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下,材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象(热透镜效应),当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移,通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。

    访问次数:1463
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-09-27
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
扫码关注

传真:010-68214292

邮箱:gloria.yang@opcrown.com

地址:北京市门头沟区莲石湖西路98号院7号楼1006室

版权所有©2024 北京昊然伟业光电科技有限公司 All Rights Reserved     备案号:京ICP备10042209号-3     sitemap.xml     管理登陆     技术支持:化工仪器网
Baidu
map