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  • 该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射

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    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-09-27
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