热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
18519585532
当前位置:首页 > 产品中心 > 应力仪 > 应力双折射Exicor-OIA
产品分类
应力仪
查看全部产品
相关文章
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力测量进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射
传真:010-68214292
邮箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市门头沟区莲石湖西路98号院7号楼1006室
在线咨询
电话
微信扫一扫
返回顶部