热门关键词: 测角仪,应力双折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD检测设备,波片相位延迟,剪切
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Hinds 仪器的应力双折射测量系统Exico-150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多样性,在生产车间和研发实验室环境中均可胜任。 该模型广泛用于研究和工业中测量组件; 如光掩膜和光刻胶、DVD空白、塑料薄膜、透镜毛坯、激光晶体、手机显示窗、注塑件等等。 台式设计和直观的自动扫描软件使该产品成为高价值精密光学元件和商品光学元件(高达150mm X 15)
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